微帶線的 S 參數（含損耗）
作者: tonagai執行次數: 17736
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在利用 Hammerstad 與 Jensen 模型計算微帶線的特性阻抗後，進一步計算導體損耗（包含 Morgan 模型中的粗糙度）與介電損耗，並將特性阻抗的虛部納入考量，最終轉換為 S 參數。若採用複數特性阻抗，亦可重現 TDR 測量時阻抗看似升高的現象。
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